미분 간섭 관찰 관찰법 ( DIC )
Differential Interference Contrast Microscopy(DIC)
- 미분간섭관찰법 발명자
Georges (Jerzy) Nomarski (January 6, 1919 – 1997)
프랑스 귀화 물리학자 (폴란드 태생)
- 발명 배경
이 관찰법은 샘플이 두꺼운 경우에 후광에 의한 광학 노이즈가 발현되는 위상차 현미경과 다르게 후광 효과가 발현되지 않으며, 샘플에 입체감을 부여하여 투명한 샘플에 대하여 보다 세밀한 관찰을 가능하게 합니다.
이 관찰법은 살아있는 생물학적 시료 및 염색을 하지 않은 조직의 관찰에 폭넓게 사용되고 있습니다.
- DIC Microscopy 원리 설명
본 관찰법은 편광필터 2개(편광자, 검광자)와 DIC 프리즘 2개의 추가 유닛으로 구성되어 진다.
가장 바깥쪽에 위치하는 편광 필터 2개(편광자,검광자)는 Cross Nichole 상태로 설치 되어 있어야 하며, 이는 두개의 유닛 사이에 광학적 특성의 변화가 있는 빛만을 통과시키겠다는 목적으로 이해하면 된다.
편광자를 통과한 빛이 처음 프리즘에 통과하면 빛은 2개의 경로를 가지게 된다. 이 두 빛은 광학진동 방향이 직교하며, 매우 미소한 거리 차를 가지고 진행한다.
샘플을 통과하고 다음 프리즘을 통과하면서 빛은 다시 동일한 경로를 갖는 빛으로 합성되며, 이때 다른 경로를 통과하였기 때문에 동일한 위상을 갖지 못하는 경우가 발생한다.
동일한 위상일 경우에는 보강간섭 그렇지 않는 경우에는 소멸간섭이 발생한다.
DIC Microscopy 용어 설명(보강)
- Phase Shift
- 조정 방법: 1/4람다 필터 또는 DIC 프리즘에 있는 회전 레버을 이용하여 조정한다.
- 발생 효과: 보여 지는 샘플의 음영을 바꿀수 있다.
- 쾰러 조명
- 최근에 사용되는 대부분의 관찰법은 쾰러 조명 세팅을 기본으로 하고 있음.
- 쾰러 조명을 기반으로 다양한 관찰법이 설계되어 있음.
Bright Field Microscopy와 DIC Microscopy의 이미지 비교
Brightfield Image
투과조명DIC Image
투과조명BrightField
반사조명DIC Image
반사조명
별칭 : Normaski Interference Contrast Microscopy ( NIC )