카테고리 보관물: Microscope

광학 현미경

JNO-KRM for HLMD

Observation of the surface of a long column

Compact Reflected Microscopey for HLMD Made by JNOPTIC
Compact Reflected Microscopey
Bright Field
Polarization Microscope (option)
Height Measurement Unit _0.2㎛ (option)
Made by JNOPTIC
사용가능한 관찰법

Bright Field Microscopy
Polarization Microscopy (option)

추가 가능한 관찰법 및 Option

Polarization Microscopy (option)
Height Measurement Unit _ 최소단위 : 0.2㎛ (option)

– Consist of –

Large Table Stand
Compact microscope frame
Attachment Holder
Qunituple Revolving Nosepiece
Compact Illumination Tube
Objective 5X ( Dry Type )
Objective 10X ( Dry Type )
Objective 20X ( Dry Type )
Mechanicla Stage with Right-Hand Drive Control
Stage Plate for HLMD(전용)
Tube Lens
C-mount Adapter 1X
Pin Light Source & adapter
Stage adater
Centering Extend Plate
COLOR CMOS Pregius USB Camera
-1/1.8 “” CMOS Pregius, COLOR
-2,048×1,536 pixel
-Up to 60 images/s
-Protocol: USB 3.0
-IR Cut : 650㎚”

JNO-KRM

Compact Reflected Microscope

Compact Reflected Microscopey Made by JNOPTIC
Compact Reflected Microscopey
Bright Field
Polarization Microscope (option)
Height Measurement Unit _0.2㎛ (option)

Made by JNOPTIC

데모장비 판매가격 : 670만원 (VAT 별도)

Option을 제외한 모든 구성이 포함된 가격입니다.

사용가능한 관찰법

Bright Field
Polarization Microscope (option)

추가 가능한 관찰법 및 Option

Polarization Microscope (option)
Height Measurement Unit _0.2㎛ (option)

– Consist of –

Large Table Stand
Compact microscope frame
Attachment Holder
Qunituple Revolving Nosepiece
Compact Illumination Tube
Objective 5X ( Dry Type )
Objective 10X ( Dry Type )
Objective 20X ( Dry Type )
Mechanicla Stage with Right-Hand Drive Control
Stage Plate
Trinocular Intermediate Attachment
C-mount Adapter 1X
Pin Light Source & adapter
Stage adater
Centering Plate
Color CCD USB Camera
-1/3 “” CCD, Color
-1280 x 960 pixel
-Up to 30 images/s
-Protocol: USB 3.0

JNO-WHP86FBX

8인치 웨이퍼 검사 현미경 & 높이 측정 유닛 포함

JNO-WHP86FBX : 8인치 웨이퍼 검사판 ( OLYMPUS BX53M 사용가능 )

JNO-MHU : 단차 또는 높이 측정 유닛

BX53M : OLYMPUS 산업현미경

OLYMPUS(EVIDENT)의 BX53은 Y축의 구동범위는 4인치까지이기 때문에 8인치 웨이퍼를 검사 하기 어렵습니다. 8인치 웨이퍼를 관찰하기 위해서는 X축과 Y축 모두 8inch(20㎝) 구동할 수 있는 고가의 대형 현미경을 구입해야합니다.

하지만, JNO-WHP86FBX는 8인치 웨이퍼를 전면적을 검사 할 수 있도록 기능을 확장 할 수 있는 유닛입니다. (Wafer를 회전시키면서 관찰 하면, 8inch Wafer의 모든 면적빠짐 없이 검사 할 수 있습니다. )

JNO-CKX53M

금속 미세조직 관찰용 광학현미경

Compact Inverted Microscope
For Department of Materials Science and Engineering

JNO-x53M

저렴한 비용 투자로 투과조명용 생물현미경을 반사조명용 금속현미경으로 Upgrade 하게 해주는 모듈(Unit)입니다.

사용할 수 있는 관찰법은 BrightField 관찰법과, Simple Polarizing 관찰법을 사용할 수 있습니다.

Bright Field Microscopy

경계가 명확하고, 명암이 분명한 샘플의 관찰에 사용되어지는 가장 기본적인 관찰법입니다.

분석을 위한 이미지 개선을 위해서는 샘플이 반응하는 빛의 파장대를 고려해 볼수 있습니다. 효과적인 파장대를 파악할 수 있다면, 경계에 대한 강조가 용이하게 되어 분석의 정확도도를 올릴 수 있습니다.

Simple Polarizing Microscopy

간이 편광 관찰법은 샘플(시료)의 편광특성이 다른 재질들이 섞여 있는 시료의 구분을 위하여 사용되어지는 검경법입니다. 흔히 사용되어지는 상용 합금은 편광특성이 구별이 되지 않는 경우가 많긴 하지만, 다양한 소재의 관찰을 하는 경우에는 단순한 조작으로 큰 효과를 얻을 수 있는 관찰법입니다.

Microstructure Observation of Metal Using Optical Microscopy

금속조직의 상, 결정립의 형상과 분포, 크기 및 결함 등의 분석을 위하여 광학현미경이 주로 사용되고 있습니다.

이런한 분석을 위하여 광학현미경을 사용함에 있어, 다음과 같이 고려해야 할 사항이 있습니다.

첫째로, 광학 현미경은 초점심도가 매우 작기 때문에, 아주 작은 굴곡이라도 있는 샘플은 관찰하는 영역 전체를 한번에 초점정합을 할 수가 없게 됩니다. 하기의 표의 수치를 보면, 대물렌즈의 초점심도는 매우 짧고, 배율이 커질수록 더 짧아지기 때문에 관찰하는 샘플(시료)의 관찰면은 더욱 더 평탄해야 합니다.

depth of focus of objective lenses
depth of focus of objective lenses

금속 조직의 미세구조를 관찰하기 위해서 샘플(금속)의 단면을 균일하게 연마를 해야 하는 이유입니다.

둘째로, 샘플의 관찰면이 대물렌즈 광로와 정확한 수직인 면에 정합하기 편한 Inverted Microsocpe가 주로 사용되어 집니다.

셋째로, 금속조직의 경계가 명확하지 않을 경우에는 샘플 제작시 부식 등의 방법으로 경계를 강조한 후에 현미경으로 검경을 하게 됩니다.

이러한 사용에 있어 적합한 현미경의 검경법(Microscopy)을 이해하면, 관찰하고자 하는 샘플의 특성을 추정할 수 있습니다.

Bright Field Microscopy

경계가 명확하고, 명암이 분명한 샘플의 경우에 사용되어지는 가장 기본적인 관찰법입니다.

분석을 위한 이미지 개선을 위해서는 샘플이 반응하는 빛의 파장대를 고려해 볼수 있습니다. 효과적인 파장대를 파악할 수 있다면, 경계에 대한 강조가 용이하게 되어 분석의 정확도도를 올릴 수 있습니다.

Dark Field Microscopy

Bright Field는 샘플에 빛을 조사하여, 반사되어 돌아오는 빛을 그대로 사용하는 검경법입니다만, Dark Field는 샘플에 조사된 광(직접광)이 대물렌즈로 돌아가지 못하도록 설계되어 있습니다.

직접광에 의해 발생하는 회절광(간접광)만이 대물렌즈로 들어가게 하는 검경법(Microscopy)을 Dark Filed라고 말합니다. 이 회절광은 단차나 스크레치, 파티클(균열, 식각된 입자경계 등)에서 발생하기 때문에, 평탄한 영역에서는 회절 현상이 발생하지 않아 그저 어둡게 보이기만 하고, 회절이 생긴 영역은 마치 별처럼 밝게 보입니다.

빛의 입사각에 따라 유리창의 먼지가 어느 순간 강조되어 보이는 경우가 이와 비슷한 원리라 할 수 있습니다.

Simple Polarizing Microscopy

간이 편광 관찰법은 샘플(시료)의 편광특성이 다른 재질들이 섞여 있는 시료의 구분을 위하여 사용되어지는 검경법입니다. 흔히 사용되어지는 상용 합금은 편광특성이 구별이 되지 않는 경우가 많긴 하지만, 다양한 소재의 관찰을 하는 경우에는 단순한 조작으로 큰 효과를 얻을 수 있는 관찰법입니다.

DIC(Differential Interference Contrast)

미세 굴곡의 변화를 명암으로 표시하는 것을 목적으로 하는 검경법입니다. 샘플에 입사하는 광을 2개로 분리한 후에 발생하는 광경로의 차이가 발생한 2개의 광을 다시 하나로 합하는 구조로 간단히 설명할 수 있습니다. 다시 합해졌을때 소멸 및 보강간섭등의 효과를 이미지에 반영하는 관찰법입니다.

CX33

간편한 검사와 효율화를 추구하는 생물현미경

CX43/CX33은 일상적인 현미경 검사를 편안하게 수행할 수 있도록 인체공학적 효율성을 추구한 생물 현미경입니다. 종래의 현미경에 비교하면 낮은 레볼버, 낮은 스테이지, 손을 책상에 둔 채 조작할 수 있는 포커스 핸들 등에 의해, 표본의 교환이나 포커싱(초점) 조정을 적은 움직임으로 조작 할 수 있어 장시간의 관찰에 있어도 쾌적한 사용이 가능합니다. 또한, 다양한 관찰법에도 적용 할 수 있습니다.

시야 주변까지 선명한 관찰상

가성비가 좋고, 넓은 시야까지 수차가 없는 Plan 대물 렌즈를 사용하여 시야 주변까지 선명한 관찰이 가능합니다.

고배율 대물렌즈로 관찰 시, 스테이지 후면의 조동 스토퍼가 대물 렌즈와 샘플의 접촉을 방지하여, 샘플과 대물렌즈의 파손 위험을 줄일 수 있습니다.

낮은 위치 리볼버로 빠르게 배율을 변경
낮은 위치에 있는 레볼버는 포커스 핸들과의 거리가 가깝기 때문에 적은 팔의 움직임으로 빠른 배율을 변경이 가능합니다.

Aperture 조리개 조작으로 콘트라스트 강조
상기 이미지에서 우측 이미지와 같이 Aperture 조리개를 좁히는 것으로 contrast를 강조하는 효과를 얻을 수 있습니다.

Specification for CX33 ( OLYMPUS )
Specification for CX33 ( OLYMPUS )

CX43

간편한 검사와 효율화를 추구하는 생물현미경

CX43/CX33은 일상적인 현미경 검사를 편안하게 수행할 수 있도록 인체공학적 효율성을 추구한 생물 현미경입니다. 종래의 현미경에 비교하면 낮은 레볼버, 낮은 스테이지, 손을 책상에 둔 채 조작할 수 있는 포커스 핸들 등에 의해, 표본의 교환이나 포커싱(초점) 조정을 적은 움직임으로 조작 할 수 있어 장시간의 관찰에 있어도 쾌적한 사용이 가능합니다. 또한, 다양한 관찰법에도 적용 할 수 있습니다.

자연스러운 색상으로 관찰할 수 있는 긴 수명의 LED 광원

검사에 적합한 백색 LED로 자연스러운 색상 재현

밝고 주광색에 가까운 LED 광원은, 필터에 의한 색조 조정을 하는 일 없이, 자연스러운 색조로 표본을 관찰할 수 있습니다. LED 광원은 60,000시간으로 긴 수명을 가지고 있어, 램프 교환의 번거로움을 줄일 수 있고, 장시간에 걸쳐서 조명의 성능을 유지합니다.

Köhler 조명 조정 없이 관찰 조건 유지
CX43 및 CX33 현미경은 고정식 Köhler 조명을 제공하므로 콘덴서를 조정하지 않고도 적절한 조명을 얻을 수 있습니다. 

CX43의 콘덴서는 2X에서 100X까지 대물렌즈에 대응할 수 있으며,
CX33은 콘덴서는 4X에서 100X까지 대물렌즈에 대응합니다

시야 주변까지 선명한 관찰상
가성비가 좋고, 넓은 시야까지 수차가 없는 Plan 대물 렌즈를 사용하여 시야 주변까지 선명한 관찰이 가능합니다.

인체공학적으로 배치된 초점 손잡이
낮은 위치의 초점 손잡이를 사용하여 책상 위에 손과 팔뚝을 놓고 편안한 자세를 유지하면서 관찰을 수행할 수 있습니다. 초점 스토퍼는 고배율에서 작업할 때 표본이 실수로 대물렌즈와 부딪히는 것을 방지합니다.
인체 공학적 스테이지 및 접안 렌즈의 위치
– 편안함을 높이고 피로를 줄여주는 낮은 위치의 스테이지
– 표본을 원활하게 설정하고 확인할 수 있도록 시선 위치의 스테이지 가시성
– 가벼운 터치만으로 제어 가능하며, 표본을 신속하고 편안하게 볼 수 있게 해주는 낮은 위치의 스테이지 손잡이

낮은 위치 리볼버로 빠르게 배율을 변경
낮은 위치에 있는 레볼버는 포커스 핸들과의 거리가 가깝기 때문에 적은 팔의 움직임으로 빠른 배율을 변경이 가능합니다.

최대 5개의 대물렌즈 지원
유연성을 높이기 위해 회전식 노즈피스에 최대 5개의 UIS2 대물렌즈를 지원합니다. 일반적인 대물렌즈 외에도 넓은 면적 관찰을 위한 2배율 대물렌즈 또는 위상차용 대물렌즈를 선택할 수 있습니다. 

Aperture 조리개를 일정한 위치에서 고정하여 오조작을 방지
CX43은 개구(Aperture) 조리개를 고정할 수 있어서 일정한 조리개 상태로 관찰을 유지 할 수 있습니다. 개구 조리개를 기본 위치에 고정할 수 있기 때문에 조작의 실수를 줄일 수 있습니다.

다양한 관찰법을 사용 가능한 유니버설 콘덴서
CX43은 유니버설 콘덴서를 탑재해 명시야 관찰, 암시야 관찰, 위상차 관찰, 형광 관찰, 간이 편광 관찰 등 다양한 관찰법이 사용가능합니다. 콘덴서는 2X에서 100X까지의 대물렌즈와 조합하여 관찰이 가능하고, 터렛 회전이나 탑 렌즈의 이동과 같은 번거로움이 없어, 관찰 시간을 절약하고 조작 실수를 줄일 수 있습니다.

콤팩트한 형광 LED유닛을 사용 가능
CX43은 컴팩트한 전용 형광 유닛을 후면에서 꽂는 것만으로 형광 현미경 관찰을 할 수 있습니다. 60,000시간의 긴 수명 LED 광원을 채용하고 있어 램프 교환이나 번거로운 조정이 불필요합니다. 콘덴서의 터렛을 FL(형광 관찰)로 선택하면 컨덴서와 같은 샘플 하단의 광로로부터의 노이즈가 차단되기 때문에 백그라운드 노이즈가 적은 선명한 형광 관찰이 가능합니다. 콘덴서의 탑 렌즈를 광로에서 벗어나게 선택 하시면 더욱 백그라운드 노이즈를 줄일 수 있습니다.

관찰 스타일에 따른 크렌멜 제공
2개의 표본 동시에 끼워 비교하면서 관찰할 수 있는 크렌멜을 표준 장비해, 다양한 종류의 표본에 대응하고 있습니다. 옵션인 플레인 크렌멜은 표본을 홀더에 끼울 필요 없이 단지 표본을 시트 위에 놓기만 해도 쉽게 표본 이동이 가능합니다.

Aperture 조리개 조작으로 콘트라스트 강조
상기 이미지에서 우측 이미지와 같이 Aperture 조리개를 좁히는 것으로 contrast를 강조하는 효과를 얻을 수 있습니다.

Specification for CX43 ( OLYMPUS )
Specification for CX43 ( OLYMPUS )

JNO-MHU

JNO-MHU(Height Measuring Unit)

JNO-MHU is equipment to measure the height of sample, equipped with Z-axis stage handle. It could be equipped easily with new purchasing or existing microscope

JNO-MHU with BX51 (Option)Height Measuring Unit
JNO-MHU with BX51 (Option)Height Measuring Unit

<  Consist of  >

Responding ModelMeasurement value unitRecommended measuring height
CX 410.2 ㎛Below ± 2000㎛
CKX 410.2 ㎛Below ± 2000㎛
BX – FM0.2 ㎛Below ± 2000㎛
BX 51/530.1 ㎛Below ± 1000㎛
MX 510.1 ㎛Below ± 1000㎛
MX 61L/610.1 ㎛Below ± 1000㎛
Left Image : Reset of Z axis(height value reset) Z= 0㎛
Right Image : Measurement of Z axis(height value) Z= 288㎛
JNO-MHU with JNO-ARM_02
JNO-MHU with JNO-ARM Sample Height : 288.0㎛
JNO-MHU with JNO-ARM_03
Sample Height : 296.6㎛ Heigh Measurement for Microscope by JNO-MHU & JNO-ARM
Screen Capture Image ( JNO-ARM )_Discontinued function
JNO-MHU with JNO-ARM
JNO-MHU with JNO-ARM
현미경을 이용한 높이 측정 방법
현미경을 이용한 높이 측정 방법

BX53

Biological Microscope

BX53 Series
BX53 Series – Biological Research Microscope

Sample Images

UIS2 Objectives ( 대물렌즈 ) for BX53

UIS2 Objectives for BX53
UIS2 Objectives for BX53
UIS2 Objectives for BX53
UIS2 Objectives for BX53

X Line UPLXAPO

UIS2 X Line Objectives for BX53
UIS2 X Line Objectives for BX53

X Line UPLXAPO는 기존의 대물렌즈보다 더 큰 NA , 더 나은 이미지 평탄도 및 더 넓은 파장대역에서의 색수차 보정이 가능한, 보다 향상된 광학 성능을 제공합니다.

대물렌즈는 샘플을 확대하는 유닛입니다. 대물렌즈는 샘플의 조건을 명확히 규정하고 있기때문에, 관찰하고자 하는 샘플의 조건에 적합한 대물렌즈를 선택해야 합니다.

조건이 부합하지 않을 경우에는 당연히 좋은 이미지를 기대하기 어렵습니다.

옵션 모듈식 장치로 최대 105mm(4.1인치)의 샘플을 스테이지에 장착할 수 있습니다. 향상된 포커싱 메커니즘으로 인해 현미경은 최대 6kg 의 총 중량(샘플 + 스테이지)을 수용할 수 있습니다.

FILM CROSS SECTION-OBSERVATION

미동핸들이 1회전 할때 BX53M은 100㎛, BXFM은 200 ㎛ 상하 이동을 합니다. 이때 미동핸들에 센서를 장착하여 샘플의 상하 이동값을 읽음으로써, 샘플의 높이 측정을 가능하게 합니다.

JNO-MHU_How to Measure_02
JNO-MHU_How to Measure_02
JNO-MHU_How to Measure_03
JNO-MHU_How to Measure_03

FILM CROSS SECTION-OBSERVATION

JNO-FM-BXSET

필름 전용 현미경으로 찍은 샘플 사진 (동일 샘플)

– 필름 단면 관찰 영상 –

일반 현미경에서 필름 관찰시 문제점

  • 필름 단면이 고르지 않다.
  • 필름 단면 전체에 초점을 맞추기가 어렵다.
  • 필름이 가늘어서 관찰면을 고정하기가 어렵다.
포장재 필름의 단면 관찰 (특허 기술 )

필름 단면 관찰 전용 현미경의 특징

  • 선명한 필름 단면 샘플을 획득하기 용이함.
  • 필름 단면 전체 영역이 초점 영역과 정합이 용이함.
  • 샘플을 관찰하기 편하게 고정하여 관찰 가능
  • 샘플의 회전이 용이하여  원하는 각도를 쉽게 맞출 수 있음.
  • 샘플의 교환시 초점이 거의 변하지 않아 작업이 편함.
  • 투과 반사 조명 모두에 상기의 장점을 모두 활용 가능함.

BX53M

EVIDENT (구 OLYMPUS)

현미경 검경법 ( Microscopy )


BX53M 구성을 위한 다양한 모듈( Module )


UIS2 Objectives for BX53M
UIS2 Objectives for BX53M
Industrial_microscope
Flexibility for Sample Height and Weight

Body Frame 확장을 통한 최대 105mm(4.1인치)의 샘플을 스테이지에 올려서 검경이 가능합니다.

향상된 포커싱 메커니즘으로 최대 6kg 중량의 샘플을 올려 놓고 관찰 할 수 있습니다.
(상기 중량은 스테이지의 중량이 포함된 값입니다. )

Flexibility for Sample Height and Weight
Samples up to 105 mm can be mounted on the stage with the optional modular unit.

Intermediate Tubes
Various types of accessories for multiple purposes. For use between tube and illuminator.

8인치 웨이퍼 검사 현미경 & 높이 측정 유닛 포함

JNO-WHP86FBX : 8인치 웨이퍼 검사 유닛 ( BX53M 전용 )

JNO-MHU : 단차 또는 높이 측정 유닛

BX53M : OLYMPUS 산업현미경

대물렌즈는 샘플을 확대하는 유닛입니다. 대물렌즈는 샘플의 조건을 명확히 규정하고 있기때문에, 관찰하고자 하는 샘플의 조건에 적합한 대물렌즈를 선택해야 합니다.

조건이 부합하지 않을 경우에는 당연히 좋은 이미지를 기대하기 어렵습니다.

( J&Optic ) Height Measuring Unit

미동핸들이 1회전 할때 BX53M은 100㎛, BXFM은 200 ㎛ 상하 이동을 합니다. 이때 미동핸들에 센서를 장착하여 샘플의 상하 이동값을 읽음으로써, 샘플의 높이 측정을 가능하게 합니다.

JNO-MHU_How to Measure_02
JNO-MHU_How to Measure_02
JNO-MHU_How to Measure_03
JNO-MHU_How to Measure_03

FILM CROSS SECTION-OBSERVATION

JNO-FM-BXSET

필름 전용 현미경으로 찍은 샘플 사진 (동일 샘플)

– 필름 단면 관찰 영상 –

일반 현미경에서 필름 관찰시 문제점

  • 필름 단면이 고르지 않다.
  • 필름 단면 전체에 초점을 맞추기가 어렵다.
  • 필름이 가늘어서 관찰면을 고정하기가 어렵다.
포장재 필름의 단면 관찰 (특허 기술 )

필름 단면 관찰 전용 현미경의 특징

  • 선명한 필름 단면 샘플을 획득하기 용이함.
  • 필름 단면 전체 영역이 초점 영역과 정합이 용이함.
  • 샘플을 관찰하기 편하게 고정하여 관찰 가능
  • 샘플의 회전이 용이하여  원하는 각도를 쉽게 맞출 수 있음.
  • 샘플의 교환시 초점이 거의 변하지 않아 작업이 편함.
  • 투과 반사 조명 모두에 상기의 장점을 모두 활용 가능함.

BXFM with BX3M-KMA-S
BXFM with BX3M-KMA-S

BXFM 시스템은 다양한 활용법에 사용 될수 있습니다.