광학 현미경의 관찰법 ( MICROSCOPY )

검경법	검경법 설명
명시야 관찰 Bright Field	기본관찰법으로, 투과형 현미경에서는 쾰러조명 설정을 숙지하는 것이 가장 중요합니다.
암시야 관찰 Dark Field	직접광을 샘플에 조사한 후에 발생한 산란광 만을 이용하는 검경법
간이편광 관찰 Simple Polarization	편광필터 2개(편광자, 검광자)를 이용한 검경법
전용편광 관찰 Polarization	광학적이방체의 편광 특성을 검출하여, 암석과 광물의 연구에 주로 사용되는 검경법
위상차 관찰 Phase-contrast	샘플을 염색하지 않고, 투명한 샘플의 구조와 상태 변화를 관찰하기 위한 검경법
미분간섭 관찰 DIC	두꺼운 샘플에서 후광 효과를 배제하여, 투명한 샘플을 보다 세밀히 관찰하기 위한 검경법
호프만 모듈레이션 Hoffman Modulation Contrast	DIC와 같이 입체감이 있는 관찰이 가능하다. 특징으로는 플라스틱 샤레 등의 편광성이 있는 용기에서 사용가능한 검경
형광 관찰 Fluorescence microscopy	물체에 강한 빛을 조사할 때 발현되는 형광을 이용하여 물체의 구조를 관찰하는 검경법