현미경의 개발역사
광학 현미경과 그 외 현미경
단렌즈 현미경 – Single Lens Microscope
복식현미경 – Compound microscope
본 이미지는 AI(인공지능)를 활용하여 생성되었습니다.
가시광선을 주로 사용하는 광학 현미경은 상기와 같이 단렌즈 현미경으로 시작하여 대물렌즈와 접안렌즈를 조합하여 사용하는 복합현미경의 모습으로 기본 구조를 갖추어 왔습니다. 또한 보다 높은 배율을 추구할 수록 흐려지는 이미지의 질을 높이기 위한, 수 많은 시도의 결과로 현재 우리는 양질의 이미지를 볼 수 있는 현미경을 사용할 수 있습니다.
또한 일반인이 흔히 알고 있는 광학현미경은 Bright Fileld 라고 불리는 관찰법으로써 설명 할 수 있습니다. 하지만, 이 관찰법만으로는 다양한 샘플을 보고자 하는 탐구자들의 욕구를 만족시키기 어렵기 때문에, 보다 다양한 관찰 방법이 개발되어 왔고, 향후에도 새로운 관찰법이 끊임없이 개발될 것으로 기대됩니다.
참고로, 오늘날의 대표적인 현미경 관찰법을 열거하자면 BF, DF, PO, Simple PO, DIC, PH, FLUORESCENCE 등을 들수 있습니다.
전자 현미경
SEM ; Scanning Eelectron Microscope
본 이미지는 AI(인공지능)를 활용하여 생성되었습니다.
원자 현미경
AFM ; Atomic Force Microscope
원자 현미경은 원자를 관찰할 수 있다는 의미에서 이름이 붙여졌습니다. 원자 현미경의 원리는 원자 표면을 뾰족한 탐침으로 긁어서 원자를 지날 때 탐침이 움직이면 레이저가 그것을 포착하여 원자의 모습을 파악하게 되는 것입니다.
원자 현미경에는 주사 탐침 현미경(Scanning Probe Microscope; SPM)과 원자힘 현미경(Atomic Force Microscope; AFM) 등이 있습니다. SPM은 시료와 탐침 양쪽에 전기를 걸어 양자역학적 터널링 현상으로 전류가 흐르는 특성을 이용한다. 전류를 일정하게 유지하고 탐침을 시료 위에서 움직이면 탐침의 움직임을 컴퓨터로 분석해 시료 표면의 원자 구조 이미지를 그려 내는 것이다. AFM은 시료가 전기를 통하지 않는 물질일 때 사용하는데, 시료와 탐침 원자 사이에 작용하는 힘을 이용하여 시료의 형상을 측정합니다. AFM은 SPM보다 표면을 그려 내는 최대 해상도는 부족하지만 시료를 거의 손상시키지 않는다는 장점이 있습니다.
